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塑料薄膜介電常數(shù)及介質損耗測試儀 分析儀器

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參考價 56565
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 型號 HCJDCS-C
  • 品牌 其他品牌
  • 廠商性質 生產商
  • 所在地 北京市

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更新時間:2023-12-26 20:46:54瀏覽次數(shù):363

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產品簡介

是否進口 型號 HCJDCS-C
塑料薄膜介電常數(shù)及介質損耗測試儀產品簡介
型號 HCJDCS-B HCJDCS-A HCJDCS-C 工作頻率范圍 50kHz~50MHz 四位數(shù)顯,壓控振蕩器 1kHz~70MHz 四位數(shù)顯,數(shù)字合成 50kHz~160MHz 四位數(shù)顯,數(shù)字合成 Q值測量范圍 1~1000 三位數(shù)顯,1Q分辨率 5~5

詳細介紹

塑料薄膜介電常數(shù)及介質損耗測試儀產品簡介

型號 HCJDCS-B HCJDCS-A HCJDCS-C 工作頻率范圍 50kHz~50MHz 四位數(shù)顯,壓控振蕩器 1kHz~70MHz 四位數(shù)顯,數(shù)字合成 50kHz~160MHz 四位數(shù)顯,數(shù)字合成 Q值測量范圍 1~1000 三位數(shù)顯,1Q分辨率 5~5

規(guī)格


型號HCJDCS-BHCJDCS-AHCJDCS-C
工作頻率范圍50kHz~50MHz
四位數(shù)顯,壓控振蕩器
1kHz~70MHz
四位數(shù)顯,數(shù)字合成
50kHz~160MHz
四位數(shù)顯,數(shù)字合成
Q值測量范圍1~1000
三位數(shù)顯,±1Q分辨率
5~599
四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率
1~1000
四位數(shù)顯,±0.1Q分辨率
可調電容范圍40~500 pF
ΔC±3pF
40~500 pF
ΔC±3pF
13~230 pF
電容測量誤差±1%±1pF±1%±1pF±1%±0.5pF
Q表殘余電感值約20nH約20nH約8nH



塑料薄膜介電常數(shù)及介質損耗測試儀工作特性:

  1.Q值測量
  a.Q值測量范圍:2~1023;
  b.Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;
c.標稱誤差

頻率范圍25kHz~10MHz
固有誤差≤5%±滿度值的2%
工作誤差≤7%±滿度值的2%
頻率范圍10MHz~60MHz
固有誤差≤6%±滿度值的2%
工作誤差≤8%±滿度值的2%

  2.電感測量范圍:14.5nH~8.14H
電容測量:

直接測量范圍1~460p
主電容調節(jié)范圍40~500pF
準確度150pF以下±1.5pF;
150pF以上±1%

  注:大于直接測量范圍的電容測量見使用方法。

  信號源頻率覆蓋范圍

頻率范圍10kHz~60MHz
CH110~99.9999kHz
CH2100~999.999kHz
CH31~9.99999MHz
CH410~60MHz
頻率指示誤差3×10-5±1個字

  5.Q合格指示預置功能:預置范圍:5~1000
  6.正常工作條件
  a.  環(huán)境溫度:0℃~+40℃;
  b.相對濕度:<80%;
  c.電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。
  7.其他
  a.消耗功率:約25W;
  b.凈重:約7kg;
  c. 外型尺寸:(寬×高×深)mm:380×132×280。


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